各学院、直属系，各附属医院：

        聚焦离子束扫描电镜（FIB-SEM）因其同时具备精细微纳加工和高分辨显微观察分析的能力，在能源与电池材料界面表征、金属合金结构分析、半导体失效分析、陶瓷地质矿物表征等领域发挥重要作用，已经成为材料精细表征不可或缺的手段。为使我校实验技术人员更加深入地了解FIB-SEM技术及应用，分析测试中心和设备与实验室管理处将联合开展FIB-SEM技术及应用专题培训。培训事项通知如下：

一、培训对象：全校实验技术人员；对FIB-SEM技术和应用感兴趣的教师和学生。

二、培训时间：2026年9月29日上午9:30-11:30。

三、培训内容：本次培训将从FIB-SEM的基本原理、主要分析方法并结合本机实测数据案例出发，解析其在材料微区分析、透射电镜薄片制备、元素分析、微纳加工、材料三维重构等方面的应用，并分享其在图像调优、样品制备上的一些方法技巧和思考。

四、培训方式：视频会议培训，使用“腾讯会议”软件。请各位老师和同学提前在电脑PC端或手机端下载腾讯会议软件并注册，培训开始前输入会议号：283-228-298进入会议室；同时也可通过“蔻享学术”网络直播平台进行观看，网址：//www.koushare.com/live/details/56046。

五、报名方式：请感兴趣的教师和学生填写报名回执，并于2026年9月24日12:00前将报名回执电子版发送至[email protected]，由学院汇总统一上报。

附件：2026年度实验技术人员专题培训报名回执

分析测试中心  设备与实验室管理处

2026年9月17日

（联系人：张老师，联系电话：020-84112199）

（学院北校区联系人：陈穗君老师，联系电话：020-87331472；深圳校区联系人：陈淑娜老师）